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產品詳細頁
HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

  • 產品型號:XGT-9000
  • 更新時間:2023-03-27
  • 產品介紹:HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀
    型號XGT-9000
    高分辨相機和多種照明模式成像
    雙檢測器,熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器
    輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素
  • 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

產品介紹

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

XGT-9000

 

速度和靈活性兼備是微區 X 射線熒光光譜的發展方向

   

<15µm高強度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

高分辨相機和多種照明模式成像

雙檢測器熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

 

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

技術參數

型號

XGT-9000

XGT-9000SL

基本信息

儀器

微區X射線熒光分析儀

樣品類型

固體、液體、顆粒

檢測元素

輕元素檢測器:C* – Am
(常規檢測器:F – Am)

樣品倉尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

最大樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品最大質量

1 kg

10 kg

光學觀察

兩個帶物鏡的高分辨率相機

光學設計

垂直同軸 X 射線和光學觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側向照明/明場和暗場

X-射線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內

靶材

Rh

X射線光光學系統

X射線頭數量

多達配置四個

光譜優化初級X-射線濾光片  

5個位置

檢測器

熒光X-射線檢測器

硅漂移檢測器(SDD)

透射X射線檢測器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環境

全真空/局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)

局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。


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